MLJ-WG500氮化镓清洗剂_半导体GaN材料高效清洗解决方案-羽杰科技


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     深圳市羽杰科技MLJ-WG500氮化镓清洗剂,针对GaN材料特性研发,金属离子残留≤0.1ppm,有机物去除率≥99.2%,适配多领域半导体清洗,提供高效低损环保解决方案。

     氮化镓(GaN)作为第三代宽禁带半导体核心材料,凭借3.4 eV的禁带宽度、高电子迁移率等优势,广泛应用于消费电子快充、5G通信、数据中心电源等领域。其表面清洁度直接决定器件导通电阻、开关损耗及使用寿命,针对氮化镓材料易氧化、对污染物敏感的特性,深圳市羽杰科技自主研发MLJ-WG500氮化镓专用清洗剂,以精准配方与卓越性能,满足6-8英寸氮化镓晶圆及器件全流程清洗需求,助力提升半导体器件良率与可靠性。

一、核心技术优势:精准适配氮化镓材料特性

1. 全维度污染物清除,残留量达行业严苛标准

     MLJ-WG500采用改良型类APM溶剂体系,融合碱性组分与复合氧化剂(过氧乙醇-硼酸钠复配体系),可同步高效清除氮化镓表面有机污染物、金属杂质及微粒污染,解决传统清洗方法难以兼顾多类型污染物的痛点。经原子发射光谱(AES)检测,清洗后表面碳(C)、氧(O)残留量分别低于0.05 atomic%0.08 atomic%,金属离子(Na⁺K⁺Fe³⁺等)总残留量≤0.1 ppm,远优于行业0.5 ppm的平均标准,有效避免高温制程中杂质扩散对器件性能的影响。

2. 低损伤表面优化,保障材料本征性能

     针对氮化镓六方晶体结构特性,MLJ-WG500通过精准调控蚀刻速率(0.02-0.05 nm/min),在去除表面缺陷层的同时,避免过度蚀刻导致的表面粗糙化。经原子力显微镜(AFM)测试,清洗后氮化镓表面均方根粗糙度(RMS≤0.2 nm,表面平整度较传统清洗剂提升40%,且Ga/N原子比稳定维持在1:1.02±0.03的理想范围,无明显组分偏离。同时,配方中添加专用缓蚀组分,可形成纳米级保护膜,有效防止清洗后表面再氧化,静置24小时后氧化层厚度增长≤0.3 nm

3. 高兼容性配方,适配多场景工艺需求

      MLJ-WG500具备优异的材料兼容性,对硅基氮化镓(GaN-on-Si)、蓝宝石衬底氮化镓等主流技术路线产品无腐蚀损伤,可兼容光刻胶剥离后清洗、金属化前预处理、封装后残留清洗等多工艺环节。清洗液pH值稳定在10.5±0.3,工作温度范围为25-45℃,无需高温环境即可实现高效清洗,相较于传统RCA清洗法,化学品消耗量减少35%,能耗降低40%,兼具环保性与经济性。

二、关键技术参数

参数项目

指标数值

测试标准/方法

外观

无色透明液体,无可见杂质

目视观察(GB/T 6226-2005

pH值(25℃

10.5±0.3

精密pH计测试

密度(25℃

1.03±0.02 g/cm³

密度瓶法(GB/T 4472-2011

有机物去除率

≥99.2%

AES表面扫描分析

金属离子残留量

≤0.1 ppm

电感耦合等离子体质谱(ICP-MS

表面粗糙度(RMS

≤0.2 nm5μm×5μm区域)

原子力显微镜(AFM

工作温度范围

25-45℃

恒温槽测试

保质期

12个月(密封阴凉处存放)

加速老化试验(40℃90天)

三、典型应用场景

MLJ-WG500凭借精准的性能调控,已广泛适配氮化镓功率器件、射频器件及光电子器件的生产流程,具体应用包括:

• 消费电子领域:氮化镓快充适配器芯片、笔记本电脑电源管理芯片的金属化前清洗,可使器件开关损耗降低15-20%,能效提升至95%以上;

• 通信领域:5G基站射频功率放大器(PA)氮化镓器件清洗,有效提升信号传输速率与覆盖范围,减少杂波干扰;

• 数据中心/汽车电子:服务器电源、车载充电器(OBC)氮化镓模块封装后残留清洗,满足车规级AEC-Q101认证对清洁度的严苛要求;

• 晶圆制造领域:6-8英寸氮化镓外延片清洗,助力提升外延层生长质量,降低缺陷密度至10² cm⁻²以下。

四、产品价值与承诺

深圳市羽杰科技深耕半导体清洗材料领域,MLJ-WG500氮化镓专用清洗剂通过ISO 9001质量管理体系认证,每批次产品均经过严格的性能检测,确保参数一致性与稳定性。产品可根据客户工艺需求提供定制化调整方案,搭配自动化清洗设备使用时,单台设备日均清洗量可达4500-5000片晶圆,清洗均匀性(CV值)稳定在3%以内,助力客户实现产能提升与成本优化。

      羽杰科技始终以赋能第三代半导体产业升级为使命,依托核心配方研发能力,为氮化镓器件生产提供高效、低损、环保的清洗解决方案,携手客户共筑高端半导体制造核心竞争力。

本文标题:MLJ-WG500氮化镓清洗剂_半导体GaN材料高效清洗解决方案-羽杰科技


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